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Activités du service
Le support THALES JTAG vous propose un éventail de solutions personnalisées en fonction de vos besoins immédiats ou futurs
analyses de testabilité JTAG de vos cartes
développements de programme de test TH_JTAG
développements de modèles cluster complexes ( THK+ )
développements d'IP JTAG fonctionnelles pour FPGA ( virtual JTAG )
Analyse de testabilité
Analyse de testabilité
analyse des chaines JTAG et des interactions/blocages possibles
Taux de couverture précis ( listes exhaustives des éléments testés )
analyse des tests mémoires
analyse de la vitesse de programmation en fonction de la chaine et du contrôleur utilisé
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Développement de programmes/solutions de test
Développement de programmes de test
Test modulaire, de la boucle JTAG au pseudo-fonctionnel
Portail de test utilisateur ( centralisation des rapports et diagnostics )
Suivi de production
Proposition d'extension de test ( aller plus loin avec le Boundary Scan
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Développement de modèles TH_JTAG spécifiques
Développement de modèles de test
Développement d'algorithmes et de modèles de test pour vos composants spécifiques
I2C, SPI, Arinc, bus propriétaires ...
Ressources analogiques pilotables par JTAG
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Développement d'IP FPGA pour du test accéléré
Développement d'IP FPGA pour le test à fréquence système ( ou complexe )
Un catalogue déja fourni ( IP test DDR, DDR2, Flashage rapide ... )
I2C, SPI, Arinc, bus propriétaires ...
IP développées en fonction de vos besoins et de vos ressources
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